技術文章

當前位置：首頁技術文章尼康顯微鏡相關介紹

尼康顯微鏡相關介紹

更新時間：2021-07-27

點擊次數：2413

用于生物科學研究領域的新型倒置顯微鏡系列

TIRF、共聚焦、FRET、光活化和顯微注射技術幫助科學家們克服了許多活細胞成像中的困難。所有技術的核心就是Ti，擁有這款強有力的新型倒置顯微鏡，您可以在尼康CFI60®光學系統的幫助下輕松使用上述技術。Ti系列共有三種型號，改進的系統速度，提升的靈活性和高效多模式特點使Ti成為用于研究和活細胞成像的理想系統。

高質量相差圖像

尼康光學設計者開發了外部相差單元。使用這一革新系統，將相差環整合至顯微鏡主體而不是物鏡里，使用者不必使用相差專用物鏡來觀察相差圖像，并可以通過高數值孔徑物鏡來得到高質量圖像。另外使用不帶相差環的物鏡可以得到“全亮度"的熒光圖像。

置于顯微鏡主體內的相差環

將原本置于相差物鏡中的相差環置于顯微鏡的主體的外部相差單元的光路設計，便于使用者使用高數值孔徑物鏡得到高分辨率的相差圖像。根據所使用的物鏡，有四種類型的相差環可供選擇（Ti-E/U/S通用）。

超高分辨率

使用尼康的高性能物鏡，包括60x和100xTIRF物鏡，具有1.49的數值孔徑，并且整合球差校正環，可以得到其它標準相差物鏡高分辨率相差圖像。

使用同款物鏡得到的“全亮度"熒光圖像由于沒有相差環導致的光線損失，在同一系統中，不僅可以進行相差觀察，還可以得到更明亮的“全亮度"熒光圖像、共聚焦圖像和TIRF圖像。

用水浸物鏡來觀察相差圖像

通過外部相差單元，即使使用水浸物鏡也可以得到清晰、高分辨率的相差圖像。

用于圖像分析的高分辨率圖像

由于相差圖像與TIRF觀察、DIC觀察可以使用同樣的物鏡，得到的圖像可用于高精確性數據處理和圖像分析，例如TIRF圖像的細胞輪廓定義。

多端口分層結構支持研究

具有左端口、右端口和底*端口的多圖像端口設計可以在每個端口連接一個相機。另外分層結構的擴展空間設計可以加入一個后端口，這些特點方便用戶使用雙層熒光濾色塊盒和多相機進行圖像獲取。 * Ti-E/B和Ti-U/B組合可選底端口

后端口確保多相機拍攝

使用可選的后端口設計擴展了圖像獲取能力。與側端口結合使用可以用兩個相機獲取雙通道圖像。例如當FRET (福斯特共振能量轉移)的熒光蛋白之間有觀察間隔、CFP和YFP的強度差別很大時，可以通過調節單個相機的靈敏度來得到高信噪比圖像進行比較。

分層結構提高可擴展性

Ti采用的分層結構充分利用了無限遠光學系統的優勢，另外將PFS整合到物鏡轉換器。可以通過墊高塊在光路中引入PFS之外的兩個可選部件，利用該系統可以同時使用激光鑷、光活化單元和落射熒光裝置。每層的電動熒光濾色塊盒可以單獨控制。

在更寬的波長范圍內以更好的性能獲得多種熒光染料圖像

通過引入870nm的波長阻擋裝置，研究者可以使用包括Cy5.5在內的近紅外熒光染料。從紫外到紅外范圍內的光學特性得到提升，可用的物鏡數目增加，在大范圍的應用中都可以實現焦點穩定，不管是在紫外范圍的Ca濃度測量還是紅外范圍的激光鑷。

非凡的快速圖像獲取

對96孔板進行三通道（雙通道熒光和相差）快速拍攝，速度提高2倍以上。

尼康的調焦系統（PFS）排除焦點漂移

焦點漂移是時間序列觀察中最大的障礙。尼康的PFS系統對長時間觀察過程中和加藥時可能出現的焦點漂移進行校正。即使使用高倍物鏡或類似TIRF這樣的技術時也可以維持焦點。另外，在物鏡轉換器上整合PFS有助于節約空間，并不限制Ti的可擴展分層結構。 PFS采用高效光學補償系統，對Z軸平面進行實時校正。不需要使用PFS時，也可以簡單地將其撤出光路。

數字控制集線器顯著提升了電動附件的速度

尼康最新研發的數字控制集線器通過減少部件之間的通訊時間，提高各附件的速度，進而顯著提高整體的操作速度。 PC控制對Ti的電動部件進行優化，縮短從動作命令到移動之間的反應時間，從而對整體施行高速控制。通過增加智能固件，電動部件的整體操作時間顯著縮短，例如三通道（雙通道熒光和相差）連續圖像獲取需要的總時間大大縮短，減少了對細胞的光毒性。

高速電動控制與圖像獲取

同步控制若干電動部件，諸如物鏡轉換器、熒光濾色塊、光閘、聚光器轉換器和載物臺，研究者可以進行多維電動實驗。更快的附件運動和圖像獲取縮短整體的曝光時間，減少相應的光毒性，幫助研究者得到更有意義的數據。

提升每個電動部件的速度

操作和/或轉換物鏡、濾光塊、XY載物臺、激發/阻擋濾光片的速度大幅增加，研究者可以專注于觀察和圖像獲取。新研發的控制器可以記錄和復制觀察條件，實現用鼠標控制載物臺，整臺顯微鏡就像研究者眼睛和手的延伸部分。

每種觀察方法均采用優化的光學技術，得到圖像

尼康優化的光學技術提供多種模式觀察標本，向研究者呈現細胞的每一個細節。

Nomarski 微分干涉（DIC）

高對比度和高分辨率的平衡對于觀察細微結構至關重要。尼康DIC系統即使在低放大倍率下也可以得到高分辨率圖像。新型DIC滑塊（干）提供高分辨率和高對比度兩種選擇。濾光塊型DIC檢偏器可以置于電動濾光塊盒內，將DIC觀察和熒光觀察的切換時間顯著縮短。

相差

相差圖像觀察時可以使用CFI Plan Fluor ADH 100x (Oil)。該物鏡與傳統相差物鏡相比減少了相差圖像的光暈，增強了圖像的對比度。

暗場

使用高NA的聚光鏡可以進行暗場觀察。可以對微粒子進行長時間的觀察，并避免光漂白。

霍夫曼調制相差（HMC）®

HMC物鏡與HMC聚光鏡部件組合可以得到類似3D的高對比度、無光暈圖像，可以應用于培養在塑料培養皿中的透明樣本。

為Ti系列研發的新型物鏡

CFI S Plan Fluor ELWD/ELWD相差物鏡

新研發的物鏡對近紫外（Ca2+）到近紅外波長范圍內的光都有高通透性，并且改進了色差校正。在多種照明模式下都可以得到高質量無色差的圖像。

Plan Apochromat 20x物鏡

新型20x物鏡加入尼康專有的VC物鏡系列，該物鏡的軸向色差校正至405nm，是用于共聚焦觀察和光活化技術的理想物鏡。

提升可操作性

用于電動操作的所有按鍵和控制轉換器設計都非常人性化，研究者可以不受到顯微鏡操作的影響，專注于研究。

操作按鍵位于顯微鏡主體的兩側和前面

熒光濾色塊的切換、物鏡轉換、Z軸粗/微調、PFS開/關控制、透射照明開/關控制都可以通過位于顯微鏡主體的按鍵進行快速切換。

新研發的人機學控制器

通過手柄或人機學控制器可以控制高速電動XY載物臺和Z軸。

顯微鏡主體前面的VFD屏幕和操作按鍵

包括物鏡信息在內的顯微鏡狀態和PFS的開/關狀態都會顯示在VFD屏上。調。

PFS補償功能

PFS的補償功能易于控制，只需一個按鍵就可以切換粗/微調。

遠程控制面板和預設按鍵

通過遠程控制面板可以操作顯微鏡，并確認顯微鏡目前的狀態。另外可以通過預設按鍵來自動切換觀察條件。只需單單一個按鍵就可以完成從相差到熒光觀察的切換。

原創傾斜式設計

將顯微鏡主體的前部稍稍向后傾斜，操作者眼點與標本之間的距離縮短了約40mm，增強了可操作性。

上一條倒置顯微鏡的操作步驟
下一條偏光顯微鏡的主要用途